X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn))，激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生X熒光(二次X射線(xiàn))，探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。
 

　　下面讓我們一起來(lái)了解一下X熒光光譜儀的技術(shù)原理及用途吧
 

　　受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線(xiàn)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。
 

　　探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。
 

　　元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長(zhǎng)的X射線(xiàn)，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng)λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下:
 

　　λ=K(Z− s) −2
 

　　式中K和S是常數(shù)。
 

　　而根據(jù)量子理論，X射線(xiàn)可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個(gè)光具有的能量為:
 

　　E=hν=h C/λ
 

　　式中，E為X射線(xiàn)光子的能量，單位為keV;h為普朗克常數(shù);ν為光波的頻率;C為光速。
 

　　因此，只要測(cè)出熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng)或者能量，就可以知道元素的種類(lèi)，這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎(chǔ)。此外，熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。
 

　　主要用途
 

　　X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線(xiàn)的強(qiáng)度，可以 測(cè)定元素含量。
 

　　近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得最多也*泛。
 

　　大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。